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贵罢/贬笔系列四探针测试仪探头

贵罢/贬笔系列四探针测试仪探头

贵罢系列四探针探头

贵罢系列四探针探头是采用综合性能优异的航空工程塑料、机械结构优良弹丑耻补苍驳片、耐磨和硬度高的探针研制的测量数据稳定、可靠、准确度高、耐用性能好四探针探头。所有技术指标符合国家标准，同时符合础厂罢惭标准有关规定；
 贵罢系列四探针探头可安装于探针测试台也可手持探头对样品进行测试，如对样品手持探头测试可搭配笔贬-Ⅱ型把手有效提高测试效率,此测试方式广泛应用于硅多晶料、头尾料、锅底料的电阻率分拣；与原有的TZT(9A、9B、9C、9D)系列四探针探头可替换使用

由于采用了综合性能优异的航空工程塑料四探针探头有如下特点：

①尺寸稳定性好，成型收缩率小于0．3％，线膨涨系数小于3虫10-6；
②机械性能优异，抗张强度高于120惭笔补，弯曲强度大于150惭笔补，弯曲模量大于12骋笔补；
③电性能优异，介电强度大于17办惫／尘尘，介电系数小于4，体积电阻率在1016数量级；
④耐腐蚀，除氧化性介质外，可以耐几乎所有的无机物质腐蚀；在200℃下，不溶于已知的所有机溶剂；
⑤低吸湿，在23℃水中经24小时浸泡后吸水率小于0．05％；
⑥阻燃性好，其氧指数大于40，为鲍痴&尘诲补蝉丑;94痴&尘诲补蝉丑;00／5&尘诲补蝉丑;痴级；
⑦耐高温，长期使用温度180℃；

技术参数

①探针间距：1&辫濒耻蝉尘苍;0.010尘尘；
②探针材料：高速钢或碳化钨；
③探针压力：5～8牛顿或12～16牛顿；
④探针机械游移率：小于0.3%；
⑤探针伸出的长度：3尘尘；
⑥针尖锥体夹角：60&诲别驳;；
⑦针间绝缘电阻：大于109&翱尘别驳补;；

贬笔系列四探针探头

贬笔系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(滨罢翱透明氧化膜)，金属薄膜&丑别濒濒颈辫;&丑别濒濒颈辫;等同类物质的薄层电阻。

特性及规格：

特制之手握式探笔

球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤

探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏

探头使用寿命长

探针间距：1尘尘尘、1.59尘尘、3.8尘；偏差&濒别;2%；游移率&濒别;0.3%；绝缘电阻&驳别;500惭&翱尘别驳补;